Описание
Тестер транзисторов, LCR-метр, ESR-метр LCR-T4 на микроконтроллере ATmega328 Транзистор тестер позволяет определять тип и цоколевку радиоэлектронных компонентов (резистор, конденсатор, катушка индуктивности, диод биполярный NPN, PNP транзистор, N- канальный и Р- канальный MOS FET, JFET полевой транзистор, маломощный тиристор, симистор. Тестер транзисторов измеряет ряд параметров транзисторов, как биполярных так и полевых. Многофунциональным тестером можно измерить с высокой точностью сопротивление резистора, емкость конденсатора, ESR конденсатора, индуктивность дросселя, емкость перехода в диодах и транзисторах, пороговое напряжение затвора в полевых транзисторах,. Транзистор тестер поставляется без корпуса. Корпус для тестера можно приобрести отдельно. Транзистор тестер питается от 9 вольтовой батареи типа "Крона" (не входит в комплект поставки). * Разряжайте конденсаторы до тестирования! 1 Проверка полупроводников, конденсаторов, резисторов, индуктивностей производится за одну операцию – нажатием кнопки. 2. 2. Транзистор тестер имеет функцию самоотключения. Потребляемый ток после отключения не более 20nA . 3. Диапазон измерения сопротивления резисторов составляет от 0,1 Ом до 50M Ом с точностью 1%. 4. Диапазон измерения емкости 25рF - 100mF и точностью 1%. 5. Диапазон измерения индуктивности 0,01mН - 20H и точностью 1%. 6. Определение типа и цоколевки NPN, PNP биполярных транзисторов , N -канальных и Р- канальных MOS FET, JFET полевых транзисторов , диодов, двойных диодов, тиристоров небольшой мощности, однонаправленных и двунаправленных тиристоров. 7. Измерение в биполярных транзисторах коэффициента усиления и порогового напряжения база – эмиттер. 8. Обнаружение защитных диодов в биполярных и MOS FET полевых транзисторах. 9. Идентификация транзисторов Дарлингтона. 10. Измерение порогового напряжения и емкости затвора в MOS FET полевых транзисторах. 11. Измерение ESR конденсатора с разрешением 0,01 Ом. 12. Идентификация двойных резисторов (потенциометров) с отобра